尊敬的[FIRSTNAME]:
您关注的《当仪器仪表进入“红外热像+”时代》的主题网络会议今天下午14:00即将召开,如您还未报名,请点击此处快速报名。
随着红外成像技术进步和制造成本降低,FLIR已经将红外热像仪功能加入到传统测试测量仪表中,通过先定性分析后定量分析,帮助维护人员、维修电工、检测人员、监测经理等,快速定位故障点,在排除故障的过程中不再走弯路,大幅提高工作效率。
2017年5月11日14:00-15:00,来自美国菲力尔(FLIR)的专家将在线为您细说如何使用IGMTM红外成像引导测量技术及 3 款相关的仪表——红外成像万用表 DM284、红外成像万用表 CM174、红外成像温湿度计 MR176来迅速查明故障原因,正确掌握故障点,保证设备正常运行。抓紧时间,和FLIR一起走进“红外热像+”的时代!
议 题: |
当仪器仪表进入“红外热像+”时代 |
注册参会赢好礼!
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日 期: |
2017年5月11日 |
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时 间: |
14:00 – 15:00 (GMT+08:00) 1小时 中文会议 |
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